韩国 Micro Pioneer XRF -2000系列／荧光金属镀层测厚仪

韩国 Micro Pioneer XRF -2000系列／荧光金属镀层测厚仪

     Micro Pioneer XRF -2000系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越，而且价钱超值只需数秒钟，便能非般坏性地得到准确的测量结果其至是宪层层的样品也一样能胜任全目动 XYZ 裤品台镭射自动对焦系统，十字线自动调整超大／开放式的样品台，可测量较大的广品是线路板，五金电镀首饰子等行业的首冼可测量各类金属层、合金层厚度。

可测元素范围：

钛（ Ti )﹣铀（ U )

可测量厚度范围：

原子序22-25,0.1-0.8um26-40,0.05-35um43-52,0.1-100um/2-82,0.05-5um×﹣射线管：油冷超微细对焦高压：0-50KV（程控）

准直器：

固定种类大小：可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自动种类大小可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统：1BM相容，17”显示器

综合性能：

镀层分析：定性分析定量分析镀液分析

镀层分析：可分析单层镀层双层镀层三层镀层，合金镀层

镀液分析：可分析镀液的主成份浓度（如镀镍药水的镍离子浓度镀铜药水的铜离子浓度等），简单的核对方式无需购买标准药液

定性定量分析：可定性分析20多种金属元素并可定量分析成分含量．

光谱对比功能：可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比可确定样品与标准件的差别，从而控制来料的纯度．

统计功能：能够将测量结果进行系统分析统计，方便有效的控制品质．